.png)
產品中心 > SL-300光譜輻射分析儀
SL-300光譜輻射分析儀
根據CIE No.63指南要求，全光譜法測量各種光源及半導體發光器件的光譜功率分布、色品坐標、色溫、顯色指數、色容差、色偏差、顏色純度和主波長、光通量、亮度、輻射功率、光生物指數、發光效率等參數。廣泛應用于熒光燈、高強度氣體放電燈、鹵鎢燈、半導體發光器件，植物生長及醫用光源等光、色分析。
技術說明：
功能：
根據CIE No.63指南要求，全光譜法測量各種光源及半導體發光器件的光譜功率分布、色品坐標、色溫、顯色指數、色容差、色偏差、顏色純度和主波長、光通量、亮度、輻射功率、光生物指數、發光效率等參數。廣泛應用于熒光燈、高強度氣體放電燈、鹵鎢燈、半導體發光器件，植物生長及醫用光源等光、色分析。
.png "圖片10(2).png")
性能指標：
◆ 符合CIE、IEC及GB/T相關標準
◆ 全光譜法測量光色參數，無V（λ）修正誤差
◆ 波長范圍：380nm~800nm
◆ 波長精度：0.2nm
◆ 探測器：HAMAMATSU光電倍增管
◆ 測量速度：30s/400nm
◆ 測量參數：光譜功率（輻射）分布、色品坐標、色溫、顯色指數、光通量、輻射通量﹡、發光效率﹡
上一個：
Mini光譜照度計
下一個：
SPR-3000快速光譜輻射分析儀